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LANGER EMV-Technik    LF近場探頭組 信號分析儀

LANGER EMV-Technik LF近場探頭組 信號分析儀

更新時間:2022-10-10

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產品特點:LANGER EMV-Technik LF近場探頭組,專門為近場測試設計的探頭,電磁兼容工程師*的基本工具,用于在產品開發期間探測PCB的電磁場情況

LANGER EMV-Technik LF近場探頭組 信號分析儀的詳細資料:

LANGER EMV-Technik    LF近場探頭組包含4個屏蔽無源近場探頭,用于在研發階段測量電子模塊上長波.中波和短波區的射頻磁場。使用LF1探頭組的探頭,可以逐步定位集成電路上的干擾放射源。首先使用探頭LF-R 400從遠距離探測模塊的干擾發射情況,接下來再用更高分辨率的探頭LF-B3.LF-U5和LF-U2.5對干擾源進行更精確的定位。采用這些探頭可測量單個引腳.較大元件和結構件。這些近場探頭小巧輕捷,并采用外皮電流衰減和電屏蔽設計。這種近場探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50歐姆輸入端。這些近場探頭的內部沒有50歐姆的終端阻抗。

LANGER EMV-Technik    LF近場探頭組產品內容:

1*LF-B3 磁場探頭 (100KHz-50MHz)

1*LF-R400磁場探頭(100KHz-50MHz)

1*LF-U2.5磁場探頭(100KHz-50MHz)                                                                                    

1*LF-U5磁場探頭  (100KHz-50MHz)                                                                                          

1*SMB-BNC 1m  SMB-BNC測量電纜     

1*case 4+                                                

 

 

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